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上海楹點檢測設備有限公司
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帶保護膜的單晶探頭P111-S2C
B6-C高精度超聲波測厚儀
適用范圍：
測量各類金屬及其合金制品的厚度，可穿透保護涂層對基材厚度進行測量，涂層的厚度值一并顯示。測量各類非金屬產品（塑料、陶瓷、橡膠、玻璃和其它）的厚度，以及任何超聲波良導體材料的厚度測量。
優勢特點：上海楹點公司供應
1、2.4寸TFT彩色液晶顯示屏（分辨率：320×240）；
2、A掃描模式下，以圖形的方式顯示多次底波反射信號；
3、帶有B掃描測量模式；
4、可穿透保護涂層對金屬基材進行測厚（在E-E-E模式和P-E-Ct模式下）；
5、可測量保護涂層厚度（在P-E-Ct模式下）；
6、具有探頭自動識別功能；
7、儀器內置29種不同材料的標準聲速值，方便隨時調用；
8、涂層聲速值單獨設定，確保不同的涂層材料，其厚度測量值準確（默認是油漆聲速）。
基本技術參數：
測量厚度范圍（對于鋼）
雙晶探頭：0.5-300mm；
單晶探頭（帶延遲塊）：0.25-10mm；
可穿透涂層的雙晶探頭（用于厚度≤2.0mm的保護涂層下的金屬測量）：0.25-100mm；
聲速范圍
1000-9999 m/s
測量分辨率
0.1mm；0.01mm可選
測量精度
0.25mm-10.0mm范圍內：±（0.005T+0.05）mm；
10.0mm-300.0mm范圍內：±（0.01T+0.1）mm；
電源
內置可充電鋰電池 3.7V
工作溫度范圍
-20…+50℃
連續工作時間
不少于8小時
外觀尺寸
120×57×20mm
儀器重量
150g
*測量厚度范圍取決于所檢測材料的聲學特性和探頭的類型。
**可穿透涂層厚度范圍取決于涂層材料的聲學特性。
交付組件：
帶探頭的儀器主機（探頭數量和型號由客戶選擇）、充電器、mini-USB—USB A型數據線纜（用于連接計算機）、軟件（用于傳輸數據至計算機并處理測量結果）、使用說明書（中英文各一份）、防震儀器箱。
可選配的B6-C測厚儀探頭
雙晶探頭5A10
檢測對象：測量金屬罐體、容器、大直徑管道的壁厚。
技術特點：
工作頻率：5MHz；
測厚范圍（對于鋼）：1.0至200.0mm；
可穿透油漆層對基材進行測厚（僅適用于平面工件，油漆層大厚度≤0.5毫米）；
接觸面尺寸：Φ10mm；
探頭外形尺寸：Φ18×26mm；
工作溫度范圍： -10至+60℃；
注：采用新型復合材料制作，具有較高的耐磨性，并且與粗糙表面接觸良好。
雙晶探頭10A6
檢測對象：測量管道的厚度，半徑較小的容器的彎曲區域。
技術特點：
工作頻率：10MHz；
測厚范圍（對于鋼）：0.6至20mm；
接觸面尺寸：Φ6mm；
探頭外形尺寸：Φ14×26mm；
工作溫度范圍：-10至+60℃；
注：采用新型復合材料制作，具有較高的耐磨性，并且與粗糙表面接觸良好。
雙晶探頭2.5A12
檢測對象：在制造、運行和維修過程中測量金屬和非金屬產品的殘余壁厚。
技術特點：
工作頻率：2.5MHz；
測厚范圍（對于鋼）：3.0至200.0mm；
接觸面尺寸：Φ15mm；
探頭外形尺寸：Φ22×45mm；
工作溫度范圍：-10至+60℃；
注：在粗糙或銹蝕非常嚴重的工件表面具有良好的透聲性。
小尺寸雙晶探頭10A4
檢測對象：測量壁厚較薄的管材和金屬板材的厚度。
技術特點：
工作頻率：10MHz；
測厚范圍（對于鋼）：0.5至10mm；
接觸面尺寸：Φ4.5mm；
探頭外形尺寸：Φ9×11mm；
工作溫度范圍：-10至+60℃；
注：可用于狹小、難以進入的位置的厚度檢測（飛機的縱梁，小直徑的管道等）。
雙晶高溫探頭5T12
檢測對象：用于測量高溫零部件的厚度。
技術特點：
工作頻率：5MHz；
測厚范圍（對于鋼）：1.0至100.0mm；
接觸面尺寸：Φ14mm；
探頭外形尺寸：Φ26×48mm；
工作溫度范圍：-10至+250℃。
可穿透涂層的測厚探頭
雙晶探頭5E10
檢測對象：測量金屬罐體、容器、大直徑管道的壁厚，可直接測得基材的厚度值并忽略涂層厚度，也可同時顯示出基材和涂層的厚度值（在P-E-Ct模式下）。
技術特點：
工作頻率：5MHz；
測厚范圍（對于鋼）：1.5至300.0mm（在P-E和P-E-Ct模式下）；
1.0至20.0mm（在E-E-E模式下）；
大可穿透涂層厚度為2.0mm（在E-E-E模式下）；
大可穿透涂層厚度為1.0mm（在P-E-Ct模式下）；
接觸面尺寸：Φ12mm；
探頭外形尺寸：Φ25×47mm；
工作溫度范圍：-1至+60℃。
雙晶探頭10E6
檢測對象：測量管道的厚度，半徑較小的容器的彎曲區域，可直接測得基材的厚度值并忽略涂層厚度，也可同時顯示出基材和涂層的厚度值（在P-E-Ct模式下）。
技術特點：
工作頻率：10MHz；
測厚范圍（對于鋼）：0.6至50.0mm（在P-E模式下）；
0.6至10.0mm（在E-E模式下，大可穿透涂層厚度為1.0mm）；
0.6至25.0mm（在P-E-Ct模式下，大可穿透涂層厚度為0.5mm）；
接觸面尺寸：Φ8mm；
探頭外形尺寸：Φ25×47mm；
工作溫度范圍：-10至+60℃。
帶延遲塊的探頭15P6DL
檢測對象：推薦用于非常薄的材料的厚度測量。
技術特點：
工作頻率：15MHz；
測厚范圍（對于鋼）：0.25至10.0m；
穿透涂層時的測厚范圍：0.25至10.0mm（大可穿透涂層厚度為2mm）；
接觸面尺寸：Φ7.4mm，
探頭外形尺寸：Φ14×25.5mm；
注：可用于狹小、難以進入的位置的厚度檢測（飛機的縱梁，小直徑的管道等）。
帶保護膜的單晶探頭P111-S5C（用于E-E-E模式）
檢測對象：在E-E-E模式下，用來測量金屬和非金屬產品的殘余壁厚，可直接測得基材的厚度值并忽略涂層厚度。
技術特點：
工作頻率：5MHz；
測厚范圍（對于鋼）：1.0至200.0mm；
接觸面尺寸：Φ16mm；
探頭外形尺寸：Φ26×46mm；
工作溫度范圍：-10至+60℃；
保護膜：聚酯膜；
注：在粗糙或銹蝕非常嚴重的工件表面具有良好的透聲性,可穿透涂層對基材進行測厚。
帶保護膜的單晶探頭P111-S2C（用于E-E-E模式）
檢測對象：在E-E-E模式下，用來測量金屬和非金屬產品的殘余壁厚，可直接測得基材的厚度值并忽略涂層厚度。
技術特點：
工作頻率：2.25MHz；
測厚范圍（對于鋼）：2.0至150.0mm；
接觸面尺寸：Φ16mm；
探頭外形尺寸：Φ26×46mm；
工作溫度范圍：-10至+60℃；
保護膜：聚酯膜；
注：在粗糙或銹蝕非常嚴重的工件表面具有良好的透聲性,可穿透涂層對基材進行測厚。